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安森美的硅光電倍增管(SiPM) 直接飛行時間(dToF) 激光雷達平臺為工業測距應用提供現成的設計
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該平臺展示使用安森美半導體硅光電倍增管(SiPM)傳感器專知的直接飛行時間激光雷達

 

2020年11月10日 — 推動高能效創新的安森美半導體(ON Semiconductor,美國納斯達克上市代號:ON),推出了由該公司硅光電倍增管(SiPM)技術實現的單點直接飛行時間(dToF)的激光雷達方案。

 

光檢測和測距或激光雷達的應用在所有領域都在增長,包括機器人和強制要求毫米范圍精度的工業接近感知。它通?;赿ToF方法,測量通常在近紅外(NIR)波長范圍內的一個光脈沖往返于一個物體所需的時間。

 

盡管原理很簡單,但其應用可能會帶來挑戰性,例如周圍太陽光較強等環境因素。 為了準確確定范圍,接收器需要捕獲盡可能多的信號。就響應時間和靈敏度而言,傳統的光電二極管在這方面會受到影響。安森美半導體開發的硅光電倍增管(SiPM)傳感器提供更快的響應時間和高檢測效率,克服了這些不足。該參考平臺使用安森美半導體第二代SiPM 傳感器RB系列,在紅色和NIR范圍都帶來更高的性能。

 

安森美半導體開發的SiPM dToF 激光雷達平臺提供低成本、單點激光雷達的完整方案,原始設備制造商(OEM)可靈活調整并投入生產,以創建工業測距應用。 它包括NIR激光二極管、SiPM傳感器和光學器件,以及將檢測到的信號轉換為經過時間,以及將經過時間轉換為距離所需的數字處理。

 

為加快客戶的上市時間,安森美半導體提供該參考平臺的所有設計數據,涵蓋原理圖、物料單(BoM)、gerber文件和PCB設計文件。 客戶還可以訪問基于PC的圖形用戶接口(GUI),提供隨時間變化的測量結果的圖形。生成的直方圖進一步證明該系統在測距、碰撞檢測和3D制圖等應用的能力。

 

安森美半導體物聯網主管Wiren Perera說:“使用dToF 激光雷達進行測距,滿足了許多應用的關鍵需求,從自主導航到地圖繪制到監控。 但是,開發基于dToF 激光雷達的系統可能具有挑戰性。我司的這個平臺顯然證實這領先技術的效用。有了經驗證的設計,客戶就能更快地進行概念驗證,并迅速將產品推向市場。”

 

SiPM dToF激光雷達平臺可檢測10厘米至23米距離的物體。 使用提供的GUI提供開箱即用的體驗,使工程師可以立即開始評估該技術。該設計已獲得美國食品和藥物管理局(FDA)一類認證,并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11激光安全標準。

 

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